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馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上,進一步優(yōu)化性能,增加了多項智能輔助功能,讓設備更易用,結果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點的基礎上,增加了多角度動態(tài)...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規(guī)實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
公司簡介
使用我們的技術可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質電荷、分子量、質量和構象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結構,元素及物相等參數(shù)。這些信息對于預測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實現(xiàn)高效制造至關重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處,總部位于上海,其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度,形貌,X射線等設備的專業(yè)實驗室,完善的實驗室設備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務與優(yōu)良的技術...
News
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會影響晶體生長動力學、界面特性和器件的電場分布,決定了SiC功率器件的性能,傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級為“核心競爭力”,本文將介紹4°傾角及其方向的重要性,以及馬爾文帕納科高精度晶向定位儀Omega/theta如何幫助SiC襯底量產(chǎn)保持高的傾角控制技術。01丨碳化硅的生長模式無論是PVT還是HTCVD生長碳化硅單晶,都涉及到了氣固相變。所以,這個生長具有三種模式:島狀生長(Volmer-Weber,VW)、層狀生長(Frankvander-Me...
X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質上時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關,不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣,可以獲得物質的晶體結構信息。以下是X射線衍射儀的安裝...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析(NTA)技術的物理性能測試儀器,在科研和工業(yè)領域發(fā)揮著重要作用。該儀器通過激光照射含有納米顆粒的樣品池,顆粒散射的光被顯微鏡捕捉并由相機記錄,形成顆粒運動的視頻。專用軟件逐幀分析視頻,自動識別并跟蹤每個顆粒的移動路徑,計算其擴散系數(shù),再通過斯托克斯-愛因斯坦方程推算粒徑。其核心光學系統(tǒng)包含激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器,支持10-2000nm粒徑檢測范圍,具備熒光檢測功能,可支持430/565/650nm多波長檢測,能...